X-ray 繞射分析室
儀器名稱 | X光繞射儀 |
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英文名稱 | X-ray diffractometer (XRD) |
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廠牌 | Rigaku (日本) |
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型號 | Ultimate IV |
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購置日期 | 2008/11/03 |
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購置金額 | NT$2,314,855 |
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管理者 | 陳睿遠 老師 |
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連絡電話或分機 | 037-382230 |
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放置位置 | A2-232 |
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說明 |
X光繞射儀利用X光管內的加速電子撞擊金屬靶材(通常是銅靶)，使其產生特性X光，再利用單色的X光分析具週期性晶格結構的樣品。當X光入射角度與某(hkl)晶面間距滿足布拉格定律時，即會產生建設性干涉，藉由收集多個(hkl)晶面的繞射角度，即可分析樣品的晶格參數。此外由於不同原子對於X光散射的能力不同，藉由分析各(hkl)晶面的繞射強度，也可以得到晶格結構中原子種類與位置的資訊。 基本上X光繞射儀提供兩項重要訊息：一是繞射峰的位置(2θ)，二是繞射鋒的強度(I)。第一項訊息提供了晶體結構與晶格參數，第二項訊息則提供了晶體的從優取向與晶粒大小。由實驗所得的X光繞射圖與JCPDS的資料庫比對，如同人類的指紋一樣具有唯一性，因此不同結晶物會產生相異的繞射圖譜，所以可以利用X光繞射分析來決定材料是屬於哪一種礦物晶體或是結晶材料。 |
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光管最大輸出功率 |
3 kW |
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光管電壓 |
20-60 kV |
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光管電流 |
2-60 mA |
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靶材 |
銅靶 |
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波長 |
Cu Kα (λ = 0.1541 nm) |
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聚焦面積 |
0.4 x 12 mm
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2θ量測範圍 |
-3o to 162o |
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最小角度步進值 |
0.0001o |
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偵測器 |
閃爍計數器(Scintillation counter) |
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附屬設備 |
JCPDS 軟體(NT$87,500)、穩壓器(AVR, NT$59,325) |
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目前儀器狀況 |
正常 |
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維修廠商 |
理科 (02)25775217 |
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利用Ultimate IV觀察黃色釉藥粉末繞射，並標示各結晶相與繞射面。
利用Ultimate IV觀察橘色釉藥粉末繞射，並標示各結晶相與繞射面。
利用Ultimate IV觀察高嶺土，並標示各結晶相與繞射面。
利用Ultimate IV觀察石膏，並標示各結晶相與繞射面。
利用Ultimate IV觀察氧化鋯，並標示各結晶相與繞射面。
儀器名稱 | 傅立葉轉換紅外線光譜儀 |
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英文名稱 | Fourier Transform Infrared Spectrometer (FT-IR) |
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廠牌 | PerkinElmer (美國) |
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型號 | Spectrum 65 |
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購置日期 | 2011/07/26 |
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購置金額 | NT$565,000 |
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管理者 | 謝健 老師 |
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連絡電話或分機 | 037-382230 |
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放置位置 | A2-232 |
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說明 |
紅外線光譜學是研究某一化學物種如分子、離子、或自由基等，因吸收紅外線電磁波的能量(指紅外線吸收光譜)或在受激態時發射紅外線輻射(指紅外線發射光譜)，所產生此化學物種在電子基態時純轉動、純振動或轉動-振動的能量變化。由於紅外線光譜能提供分子特性的資料，而且除了光學異構物外，幾乎沒有二個有機化合物的光譜完全一樣。因此藉助紅外線光譜的研究，我們可以決定分子的結構，分子振動鍵的性質以及了解某些分子性質，同時也可以鑑定或分析某一化合物的存在與含量，應用範圍甚廣。 紅外光(infrared)是指波長在2.5-16 μm的電磁輻射，常見的紅外光譜的波數範圍是400-4000 cm-1。對於含許多原子的分子，其振動模式多，不同的振動模式有疊加或混合的狀況，光譜極為複雜。所幸的是分子內主要官能基的振動波數大多小於1500 cm-1，因此波數範圍在400-1500 cm-1常被稱為指紋區。紅外光譜是分子振動能譜，依據振動光譜獲得官能基(functional group)及指紋區(fingerprint)資訊，進行分子結構分析。 |
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波長範圍 |
8300-350 cm-1 |
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光譜解析度 |
0.5 cm-1 (甲醇 3028cm-1 band) |
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波長精確性 |
0.01 cm-1 at 2000 cm-1 |
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波長正確性 |
0.1 cm-1 at 1600 cm-1 |
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訊號對雜訊比 |
5000:1 (量測條件 5s, 4 cm-1) 25000:1 (量測條件 60s, 4 cm-1) |
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偵測器 |
中紅外光偵測器，可加裝液態氮降溫之MCT第二偵測器。 |
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分光鏡 |
Multi-layer KBr coating Ge |
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干涉儀 |
Michelson磁浮共平面轉動軸承 |
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配件 |
單點式萬用型ATR全反射配件1組(採用ZnSe晶體，可測固體、液體、薄膜，採用單點反射。) |
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附屬設備 |
個人電腦(ACER Veriton M275, NT$25,000) |
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目前儀器狀況 |
正常 |
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維修廠商 |
珀金埃爾默 |
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四種玻璃內分子的IR震動圖譜
儀器名稱 | 紫外光-可見光光譜儀 |
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英文名稱 | UV-VIS Spectrophotometers |
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廠牌 | Hitachi (日本) |
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型號 | U-3900 |
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購置日期 | 2021/09/29 |
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購置金額 | NT$435,000 |
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管理者 | 許芳琪 老師 |
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連絡電話或分機 | 037-382242 |
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放置位置 | A2-232 |
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說明 |
紫外線/可見光光譜儀(UV-VIS spectrophotometers)是一種分析材料透光率與入射波長關係的儀器，加入積分球配件，亦可以得到反射率對波長的關係，一般常用來分析玻璃、高分子等透明材料，也可以分析薄膜、奈米粒子以及液體。紫外線及可見光照射材料表面時可獲得材料之吸收起始波長，根據材料為直接能隙或間接能隙材料，代入不同的公式，可以算出材料能隙寬度(energy gap)。 |
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波長範圍 |
190 nm - 900 nm |
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光譜解析度 |
0.1 nm |
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波長步進值 |
0.1 nm |
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波長正確度 |
± 0.1 nm (at 656.1 nm after wavelength calibration) |
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光柵寬度 |
0.1, 0.5, 1, 2, 4, 5 nm |
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波長重複性 |
± 0.05 nm |
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掃描速度 |
1.5, 3, 15, 30, 60, 120, 300, 600, 1200, 1800, 2400 nm/min |
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雜散光 |
< 0.015% (220 nm, NaI 10g/1. H2O) < 0.015% (340 nm, NaNO2) |
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光源 |
Deuterium lamp D2 lamp : Ultraviolet region Tungsten iodine lamp (50 W)(WI lamp) : Visible region |
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偵測器 |
光電倍增管 |
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操作溫度 |
15oC - 35oC |
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操作濕度 |
25% - 85% |
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試片種類 |
固態、液態 |
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目前儀器狀況 |
正常 |
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維修廠商 |
益弘儀器 (02)27552266 |
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